本發(fā)明公開了一種基于視覺檢測(cè)的半導(dǎo)體器件表面除塵方法及其系統(tǒng)，該方法包括：采集半導(dǎo)體器件的實(shí)時(shí)圖像，將實(shí)時(shí)圖像與預(yù)設(shè)基準(zhǔn)圖像匹配對(duì)比，從而得到半導(dǎo)體器件表面上灰塵異物的位置信息以及灰塵異物圖像；根據(jù)灰塵異物圖像的面積大小拾取對(duì)應(yīng)規(guī)格的除塵棒，并根據(jù)灰塵異物的位置信息，驅(qū)動(dòng)除塵棒與灰塵異物進(jìn)行接觸并粘除。采用圖像識(shí)別方式，快速識(shí)別半導(dǎo)體器件表面的灰塵異物，根據(jù)實(shí)時(shí)獲取的灰塵異物圖像選擇最匹配的除塵棒接觸并粘除，這樣可以做到快速地完成除塵工作，同時(shí)除塵棒消耗最少，且由于半導(dǎo)體器件在除塵時(shí)與除塵棒接觸次數(shù)最小化，快速清除器件表面異物，也最大限度地避免了器件表面損傷或二次污染。
